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Defects in Microelectronic Materials …

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商品の特長

Defects in Microelectronic Materials and Devices

Daniel M. Fleetwood

名前を消した跡があります。

ほとんど読んでないので比較的良い状態です。

書き込み、折り目はありません。
(見落としがあるかもしれません。)

中古品であることをご理解の上、ご検討いただけますと幸いです。

お値引き、まとめ買い対応いたします。
カテゴリー 本・雑誌・漫画 > 本 > 科学・工学
商品の状態 目立った傷や汚れなし,細かな使用感・傷・汚れはあるが、目立たない
配送料の負担 送料込み(出品者負担)
配送の方法 ゆうゆうメルカリ便
発送元の地域 埼玉県
発送までの日数 2~3日で発送
Defects in Microelectronic Materials and Devices (2008-11-19 Defects in Microelectronic Materials and Devices: Fleetwood Defects in Microelectronic Materials and Devices: Fleetwood Defects in Microelectronic Materials and Devices: Fleetwood Defects in Microelectronic Materials and Devices: Fleetwood Microelectronic Failure Analysis | EAG Laboratories Detecting Defects in Microelectronics Using Particle Analysis Reliability and Failure of Microelectronic Materials | SpringerLink Microscope image of electromigration-induced Show?author=&callnumber=TK7871 Review of Wafer Surface Defect Detection Methods Microelectronics For Quantum Technologies Types of Electronic Component Failures in PCBs | Sierra Circuits Defect Detection Methods for Industrial Products Using Deep Minimizing Defects in Microelectronics: Oxidation and Stress

商品の仕様・スペック

型番 MPVCL96E3
メーカー ayan-gift-world.com
レビュー数 341
SKU m18676359189
発売日 -
出荷 宅配

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